An improved approach for process monitoring in laser material processing

(2016) [Buchbeitrag, Beitrag zu einem Tagungsband]

Optical Modelling and Design IV : 5-7 April 2016, Brussels, Belgium / Frank Wyrowski, John T. Sheridan, Youri Meuret (editors) ; sponsored by SPIE
Seite(n): 98890T, 6 Seiten

Autorinnen und Autoren

Autorinnen und Autoren

König, Hans-Georg
Pütsch, Oliver
Stollenwerk, Jochen Hugo
Loosen, Peter

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