Joint Denoising and Distortion Correction for Atomic Column Detection in Scanning Transmission Electron Microscopy Images

New York, NY / Cambridge University Press (2017) [Beitrag zu einem Tagungsband, Fachzeitschriftenartikel]

Microscopy and microanalysis
Band: 23
Ausgabe: S1
Seite(n): 164-165

Autorinnen und Autoren

Ausgewählte Autorinnen und Autoren

Zhang, Chenyu
Berkels, Benjamin
Wirth, Benedikt
Voyles, Paul M.

Identifikationsnummern