Measuring the Cation and Oxygen Atomic Column Displacement at Picometer Precision

New York, NY / Cambridge University Press (2017) [Beitrag zu einem Tagungsband, Fachzeitschriftenartikel]

Microscopy and microanalysis
Band: 23
Ausgabe: Suppl 1
Seite(n): 1612-1613

Autorinnen und Autoren

Ausgewählte Autorinnen und Autoren

Wang, Yi
Jones, Lewys
Berkels, Benjamin
Sigle, Wilfried
van Aken, Peter A.

Identifikationsnummern